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KLA-Tencor Profiler探针式台阶仪-台阶仪精度
仪器简介:应用: ◆薄膜厚度测量; ◆样品表面形貌测量; ◆薄膜应力测量; ◆样品表面粗糙度/波纹度测量; ◆样品表面三维形貌测量等。技术参数:KLA-Tencor先进的探针式台阶
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KLA台阶仪 D-300 探针式 表面轮廓仪
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国产探针接触式台阶仪
CP系列国产探针接触式台阶仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域。
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探针接触式纳米测厚台阶仪
探针接触式纳米测厚台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。
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KLA 探针式台阶仪 P7-台阶仪原理
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P-170 台阶仪
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P-7 台阶仪
需图像拼接。P-7建立在市场的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的卓越测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力
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P-17 台阶仪
需图像拼接。产品描述P-17是第八代台式探针轮廓仪,是40多年的表面量测经验的结晶。该系统业界,支持对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达200mm而无需图像拼接。该系统结合了
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纳米级高精度台阶仪
CP系列纳米级高精度台阶仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。
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探针式膜层厚度表面粗糙度台阶仪
CP系列探针式膜层厚度表面粗糙度台阶仪广泛应用于大学、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域。
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